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原子力顯微鏡

2024-12-03 13:45:12

虹漸光電

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通過速度控制實現(xiàn)快速、高分辨率成像
原子力顯微鏡（AFM）是一種掃描探針顯微鏡，通過測量尖銳的針尖與樣品表面之間的力來進行操作。原子力顯微鏡可生成具有原子級細節(jié)的高分辨率表面圖像，可用于對生物樣品、聚合物和金屬等多種材料進行成像。原子力顯微鏡還可用于測量材料的機械特性，如彈性和摩擦力。
這種多功能技術的常見應用包括
生物技術：對細胞和組織進行成像，研究蛋白質(zhì)和 DNA 等生物分子的結構和特性。
材料科學：原子力顯微鏡用于研究和表征金屬、聚合物和陶瓷等材料的結構和特性。它還用于測量表面之間的作用力。
納米技術：原子力顯微鏡不僅可讓研究人員研究納米材料的特性，還可用于制造納米材料。
半導體制造：原子力顯微鏡的原子分辨率功能使其成為半導體制造的重要組成部分，用于蝕刻和檢測硅片。
來自 Queensgate 的高速、高精度壓電平臺
Queensgate 高性能壓電平臺用于原子力顯微鏡的試樣掃描器，可提供亞納米級的空間分辨率。動態(tài)性能也很重要，因為 Z 軸適應樣品剖面的速度越快，X 和 Y 軸掃描表面的速度就越快。速度至關重要，因為它可以減少測量時間和可能的溫度漂移。由 Queensgate 開發(fā)的閉環(huán)速度控制可實現(xiàn)高質(zhì)量、高分辨率成像，光柵速度高達 4 毫米/秒，適用于快速原子力顯微鏡。
掃描區(qū)域從 100 × 100 μm 到 600 × 600 μm，可容納大型樣品和有效載荷（如硅片）。
查看 Queensgate 產(chǎn)品
NPS-XY-100D 鋁制雙軸 100 × 100 µm 平臺
NPS-XY-100A 超級英華雙軸 100 × 100 µm 平臺
NPS-X-15A/B 低剖面快速 20 µm 平臺
NPS-Z-15A 超低漂移 15 µm 平臺  

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